背景吸收是原子吸收光谱分析中常见的问题，它会影响分析结果的准确性。当检测时出现背景吸收过高的情况，可以从以下几个方面对原子吸收光谱仪进行调整：

- 优化仪器参数

    - 选择合适的分析线：某些元素可能有几条可供选择的分析线，尽量选择不受背景吸收干扰或干扰较小的谱线作为分析线。例如，对于铅元素，若在某样品中使用283.3nm波长分析线时背景吸收过高，可尝试改用217.0nm波长的分析线，但需注意不同分析线的灵敏度可能有所不同。

    - 调整狭缝宽度：狭缝宽度会影响光通量和光谱分辨率。适当减小狭缝宽度，可以减少进入检测器的杂散光，提高光谱分辨率，有助于降低背景吸收。但狭缝过窄会使光强减弱，导致信号噪声比下降，需根据实际情况权衡调整。

    - 优化灯电流：空心阴极灯的灯电流过大，会使发射线变宽，导致背景吸收相对增加；灯电流过小，光强不足，信号不稳定。可通过实验优化灯电流，在保证光源稳定的前提下，尽量降低灯电流，以减小背景吸收。原子吸收光谱仪,质谱分析仪器,医用冷藏箱

- 改进样品处理方法

    - 稀释样品：如果样品中基体浓度过高，可能导致背景吸收增大。将样品适当稀释，降低基体浓度，可有效减小背景吸收。但需注意稀释倍数不能过大，以免待测元素浓度过低，超出仪器的检测范围。

    - 基体分离与富集：采用化学分离方法，如沉淀、萃取、离子交换等，将基体与待测元素分离，或者对待测元素进行富集，可显著降低背景吸收。例如，在测定矿石中的微量金属元素时，可先通过酸溶、碱熔等方法将矿石中的基体成分与待测金属元素分离，再进行测定。

    - 灰化温度和时间优化：对于石墨炉原子化法，灰化阶段的目的是去除样品中的基体和有机物，减少背景吸收。优化灰化温度和时间，使基体在原子化之前尽可能完全挥发。一般通过做灰化曲线来确定最佳灰化温度和时间，即固定原子化条件，改变灰化温度和时间，测量背景吸收值，选择背景吸收最小且待测元素损失最小的条件。原子吸收光谱仪,质谱分析仪器,医用冷藏箱

- 采用背景校正技术

    - 氘灯背景校正：利用氘灯发射的连续光谱，在原子化器中测量背景吸收。氘灯产生的光在通过原子化器时，被背景物质吸收，而待测元素对其吸收可忽略不计。通过测量氘灯和空心阴极灯在同一波长下的吸光度之差，来扣除背景吸收。

    - 塞曼效应背景校正：利用塞曼效应，将原子吸收线分裂为π和σ±组分，通过测量π组分的吸收来扣除背景吸收。塞曼效应背景校正效果较好，尤其适用于高背景、复杂基体样品的分析，但仪器结构相对复杂，成本较高。